[发明专利]LVDS端子PIN之间的阻抗测试系统在审
| 申请号： | 202010613831.1 | 申请日： | 2020-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN111693780A | 公开（公告）日： | 2020-09-22 |
| 发明（设计）人： | 李佳刚;罗章 | 申请（专利权）人： | 惠州高盛达光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02;G01R31/52 |
| 代理公司： | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人： | 梁睦宇 |
| 地址： | 516006 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开一种LVDS端子PIN之间的阻抗测试系统，包括电源输入模块、DC‑DC降压模块、MCU控制器、模拟开关模块、测试模块及屏幕显示模块，所述电源输入模块经所述DC‑DC降压模块的降压后分别与所述MCU控制器、所述模拟开关模块和所述测试模块电连接，所述MCU控制器分别与所述测试模块和所述模拟开关模块电连接，所述测试模块将测试信号通过所述模拟开关模块传输至所述MCU控制器中，并且通过所述显示模块显示出来。本发明可以检测不同PIN脚之间是否会出现连锡的情况，从而可以有效地提高检测效率，降低人工成本，还可以避免金手指被压坏变形的情况，避免出现短路的问题。 | ||
| 搜索关键词： | lvds 端子 pin 之间 阻抗 测试 系统 | ||
【主权项】：
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