[发明专利]半导体封装结构及其制造方法在审

专利信息
申请号: 202010639263.2 申请日: 2020-07-06
公开(公告)号: CN112234034A 公开(公告)日: 2021-01-15
发明(设计)人: 邱基综;谢慧英;李彗华;陈证元 申请(专利权)人: 日月光半导体制造股份有限公司
主分类号: H01L23/31 分类号: H01L23/31;H01L23/48;H01L23/498;H01L21/56
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 蕭輔寬
地址: 中国台湾高雄市楠梓*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 本公开涉及一种半导体封装结构及其制造方法。所述半导体封装结构包含基底材料、至少一个半导体芯片、封装体、凹陷结构、重布层和至少一个导电通孔。所述半导体芯片安置在所述基底材料上。所述封装体安置在所述基底材料上且覆盖所述至少一个半导体芯片。所述封装体具有外侧表面。所述凹陷结构安置成与所述封装体的所述外侧表面相邻并从所述外侧表面中暴露。所述重布层安置在所述封装体上。所述导电通孔安置于所述封装体中且电连接所述半导体芯片与所述重布层。
搜索关键词: 半导体 封装 结构 及其 制造 方法
【主权项】:
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