[发明专利]一种面板缺陷检测方法、装置、终端设备及存储介质在审
| 申请号： | 202010657158.1 | 申请日： | 2020-07-09 |
| 公开（公告）号： | CN113935938A | 公开（公告）日： | 2022-01-14 |
| 发明（设计）人： | 蒋佳;潘兆麟 | 申请（专利权）人： | TCL科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/62;G06T7/73 |
| 代理公司： | 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 | 代理人： | 温宏梅 |
| 地址： | 516000 广东省惠州市*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请公开了一种面板缺陷检测方法、终端设备及存储介质，所述方法包括获取待检测面板的面板图像对应的缺陷候选区域集；对于每个缺陷候选区域，确定该缺陷候选区域对应的位置参数；基于各缺陷候选区域对应的置信度及位置参数，对缺陷候选区域集进行过滤得到目标缺陷候选区域集；基于目标缺陷候选区域集，确定所述待检测面板对应的缺陷类别。本申请实施例中在获取到缺陷候选区域集后，基于置信度和位置参数对缺陷候选区域集中的缺陷候选区域进行过滤，这样对缺陷候选区域进行过滤时，在考虑缺陷候选区域的置信度的基础上，将缺陷候选区域的位置参数作为筛选的过滤因素，提高了候选框筛选的准确性，从而提高了面板缺陷检测的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 面板 缺陷 检测 方法 装置 终端设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于TCL科技集团股份有限公司，未经TCL科技集团股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010657158.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
