[发明专利]中子探测器性能检测方法、装置、系统和计算机设备有效
| 申请号： | 202010667255.9 | 申请日： | 2020-07-13 |
| 公开（公告）号： | CN111929720B | 公开（公告）日： | 2023-04-25 |
| 发明（设计）人： | 黄显润;常宝富;吴长雷;高巍;陈邦续;刘桓宇;陈臻;刘尧 | 申请（专利权）人： | 中广核核电运营有限公司;中国广核集团有限公司;中国广核电力股份有限公司 |
| 主分类号： | G01T3/00 | 分类号： | G01T3/00 |
| 代理公司： | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 张亚菲 |
| 地址： | 518048 广东省深圳市福田*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请涉及中子探测领域，提供了一种中子探测器性能检测方法、装置、系统、计算机设备和存储介质。本申请可提高中子探测器性能检测的准确性。该方法包括：通过获取待测中子探测器采集的多个原始脉冲，获取多个原始脉冲的脉冲特征信息，将脉冲特征信息与包含性能判断特征与中子探测器已知性能信息之间的多组映射关系的性能判断特征集进行匹配，获得匹配到的性能判断特征对应的已知性能信息，将该已知性能信息作为待测中子探测器的性能检测结果。 | ||
| 搜索关键词： | 中子 探测器 性能 检测 方法 装置 系统 计算机 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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