[发明专利]一种半导体石墨坩埚测温设备及其测温方法有效

专利信息
申请号: 202010669597.4 申请日: 2020-07-13
公开(公告)号: CN111982319B 公开(公告)日: 2022-08-09
发明(设计)人: 郭志宏;张培林;武建军;柴利春;张作文;王志辉 申请(专利权)人: 大同新成新材料股份有限公司
主分类号: G01K1/14 分类号: G01K1/14
代理公司: 太原荣信德知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 14119 代理人: 杨凯;连慧敏
地址: 037002 *** 国省代码: 山西;14
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摘要: 发明公开了一种半导体石墨坩埚测温设备及其测温方法,包括夹紧机构、保护机构、测温机构和底座,所述保护机构固定设置在所述底座内部,所述夹紧机构固定设置在所述底座上端,所述测温机构固定设置在所述夹紧机构下方;本发明还公开了一种半导体石墨坩埚测温设备的测温方法。本发明的有益效果是:本发明设计的下压杆在受到坩埚的挤压后,会向下运动带动移动杆运动,进一步可以带动气压杆移动,从而对气囊进行充气,从而可以对坩埚进行固定和保护,可以适应不同大小的坩埚,本发明设计的第四滑块与第五滑块在转动杆转动时会做相向运动,从而会带动转动圆盘转动,从而可以带动测温管对坩埚内部各个位置进行测温。
搜索关键词: 一种 半导体 石墨 坩埚 测温 设备 及其 方法
【主权项】:
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