[发明专利]器件导通测试方法、装置、存储介质及终端在审
| 申请号： | 202010673211.7 | 申请日： | 2020-07-14 |
| 公开（公告）号： | CN113934586A | 公开（公告）日： | 2022-01-14 |
| 发明（设计）人： | 周炎;黄友林 | 申请（专利权）人： | OPPO（重庆）智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26;G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京恒博知识产权代理有限公司 11528 | 代理人： | 范胜祥 |
| 地址： | 401120 重庆*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本申请实施例公开了一种器件导通测试方法、装置、存储介质及终端，其中，所述方法包括：接收针对器件输入的老化指令，控制主板向所述器件发送第一握手信号；获取所述器件向所述主板返回的第一应答信号，根据所述第一应答信号确定所述器件的导通性。本实施例在老化处理阶段增加了器件预测试，通过向与主板连接的各个器件发送握手信号来测试器件的导通性，在老化处理前便能发现导通性异常的次品器件。所述方法无需等待老化处理结束后才能在功能测试阶段发现次品器件，一方面解决了次品器件发现时间滞后的问题，提高了器件检测效率，另一方面避免了对导通性异常的次品器件的无效测试，节省了测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 器件 测试 方法 装置 存储 介质 终端 | ||
【主权项】：
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