[发明专利]一种面向毫米波终端的性能测试方法和系统有效
| 申请号： | 202010682118.2 | 申请日： | 2020-07-15 |
| 公开（公告）号： | CN111884734B | 公开（公告）日： | 2022-05-24 |
| 发明（设计）人： | 魏贵明;乔尚兵;张翔;李雷;郭宇航;王飞龙;刘晓龙;吴翔;张宇;潘冲;任宇鑫;徐菲 | 申请（专利权）人： | 中国信息通信研究院 |
| 主分类号： | H04B17/15 | 分类号： | H04B17/15;H04B17/29;H04B17/00 |
| 代理公司： | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人： | 南霆 |
| 地址： | 100191 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请实施例提供一种面向毫米波终端的性能测试方法和系统，所述方法包括以下步骤：生成下行毫米波信号，叠加信道模型对应的衰落特征，选取测试探头，使得所述测试探头构建与所述信道模型相同的角度功率谱，发送给毫米波终端；所述毫米波终端接收信号，返回上行毫米波信号；叠加所述信道模型对应的衰落特征，进行分析，得到所述毫米波终端在所述信道模型条件下的性能参数；更换测试信道模型，重复进行测试。本申请还提供了一个适用于以上方法的装置。与传统多探头空口测试方法和系统比较，本申请具有上下行互易、用少量探头实现多模型多场景性能测试的有益效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 面向 毫米波 终端 性能 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
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