[发明专利]杂光测试中平行光管光轴与光机系统光轴对准装置及方法有效
| 申请号： | 202010694073.0 | 申请日： | 2020-07-17 |
| 公开（公告）号： | CN111982467B | 公开（公告）日： | 2021-07-27 |
| 发明（设计）人： | 陈钦芳;薛要克;马占鹏;沈阳;林上民;刘美莹 | 申请（专利权）人： | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G02B27/62;G02B7/00 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 王杨洋 |
| 地址： | 710119 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明涉及对准装置及方法，具体涉及一种杂光测试中平行光管光轴与光机系统光轴对准装置及方法。本发明的目的是解决现有技术中，自准直瞄准法存在装置结构复杂、成本高，立方镜间接引出光轴法存在效率低、操作难度大，待测系统聚焦判断法存在只能定性判断且仅适用于单纯光学系统的技术问题，提供一种杂光测试中平行光管光轴与光机系统光轴对准装置及方法。该装置的平面折轴镜和抛物面镜组成平行光管设置于结构框内；水平线激光器和竖直线激光器均安装于结构框上并出射激光线分别经待测光机系统的X轴基准平面镜和Y轴基准平面镜反射，可透过性接收屏设置于水平和竖直激光线与各自反射激光线的公共区域中。该方法利用该装置进行。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 平行 光轴 系统 对准 装置 方法 | ||
【主权项】：
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