[发明专利]一种氧化铟薄膜晶体管及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202010702417.8 申请日: 2020-07-21
公开(公告)号: CN111969067A 公开(公告)日: 2020-11-20
发明(设计)人: 张新安;尹延锋;宋国祥;魏凌;孙献文 申请(专利权)人: 河南大学
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L23/31;H01L21/56;H01L21/34
代理公司: 郑州大通专利商标代理有限公司 41111 代理人: 张立强
地址: 475004 河*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 发明属于电子材料与元器件领域,具体涉及一种氧化铟薄膜晶体管及其制备方法。从下至上包括衬底、栅电极、绝缘层、氧化铟有源层、源漏电极、电子受体薄膜。所述电子受体薄膜为有机材料或无机材料,当电子受体薄膜为有机材料时,还可以在电子受体薄膜上增加氧化铝钝化层。本发明无需在氧化铟有源层中引入杂质离子,即可调控其本征电子浓度,使薄膜晶体管保持了较高的迁移率。本发明制备工艺简单、成本低廉、条件易控制、易于大面积批量生产。
搜索关键词: 一种 氧化 薄膜晶体管 及其 制备 方法
【主权项】:
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