[发明专利]一种测试精准的半导体器件用测试座在审
| 申请号： | 202010715083.8 | 申请日： | 2020-07-23 |
| 公开（公告）号： | CN111707921A | 公开（公告）日： | 2020-09-25 |
| 发明（设计）人： | 闵哲 | 申请（专利权）人： | 苏州朗之睿电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R1/04 |
| 代理公司： | 苏州铭浩知识产权代理事务所(普通合伙) 32246 | 代理人： | 朱斌兵 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测试精准的半导体器件用测试座，包括：底座；陶瓷座，可上下移动的设置在底座内，且陶瓷座内开有凹槽；设置在凹槽内的定位陶瓷块，定位陶瓷块的顶部设有定位槽，且定位陶瓷块与凹槽的两侧形成了限位腔；底座的上方依次设有PCB基板和定位座；定位座的顶部设有盖板；定位座上设有两个凸台；测试片组件，通过可调一体式模组前后移动的设置在两个凸台之间；陶瓷座的顶部依次穿出PCB基板和定位座，且所述测试片组件设置在限位腔内，本发明能调制测试片针尖与芯片管脚接触的位置，还能通过陶瓷座配合压缩弹簧构成悬浮式配合产品下压时与测试片的接触缓冲提搞接触性能，有效控制整个测试产品的下压高度，对测试片和测试座形成保护。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 精准 半导体器件 | ||
【主权项】：
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