[发明专利]一种用于雷达天线罩表面测试点位复现的工艺方法有效
| 申请号： | 202010727409.9 | 申请日： | 2020-07-24 |
| 公开（公告）号： | CN111964577B | 公开（公告）日： | 2022-06-28 |
| 发明（设计）人： | 李勇;刘华秋 | 申请（专利权）人： | 中国航空工业集团公司济南特种结构研究所 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01C15/02 |
| 代理公司： | 中国航空专利中心 11008 | 代理人： | 杜永保 |
| 地址： | 250000*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明属于雷达天线罩制造技术领域，公开了一种用于雷达天线罩表面测试点复现的工艺方法，使用激光跟踪仪，在雷达天线罩外表面选取若干个位置安装固定靶标球座；保持雷达天线罩稳固状态，使用激光跟踪仪测量固定靶标球座的坐标以及所有测试点的坐标；以固定靶标球座作为基准点变换坐标系，得到基准坐标系，将所有测试点的坐标换算成基准坐标系的坐标值并记录；对雷达天线罩喷漆、变更涂层、打磨步骤后，需要复现测试点位置时，使用激光跟踪仪和固定靶标球座重新拟合基准坐标系，用记录的测试点在基准坐标系的坐标值找到所有测试点位置。本发明有效解决了雷达天线罩等变曲率表面测试点位手工复位带来的效率低、精度差的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 雷达 天线罩 表面 测试 复现 工艺 方法 | ||
【主权项】：
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