[发明专利]微波测试连接器及测试方法在审
| 申请号： | 202010733329.4 | 申请日： | 2020-07-27 |
| 公开（公告）号： | CN111929474A | 公开（公告）日： | 2020-11-13 |
| 发明（设计）人： | 姜兆国;孙建才;张越成;要志宏;栾鹏;董强;杜伟;杨强;郭建;武义桥;陈玉林;刘通;李彦涛;张晓康;王佳琦 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第十三研究所 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 石家庄国为知识产权事务所 13120 | 代理人： | 秦敏华 |
| 地址： | 050051 *** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种微波测试连接器及测试方法，属于微波测试技术领域，包括包括SMA接头、绝缘体和针芯，SMA接头设有第一中心孔，SMA接头的一端设有外螺纹，另一端设有弹性接地探针、弹性信号探针和用于与PCB基板锁紧锁紧卡扣，当锁紧卡扣锁紧时，弹性接地探针和弹性信号探针受PCB基板挤压接触；绝缘体设置在第一中心孔内，绝缘体设有与第一中心孔同轴的第二中心孔；针芯内嵌于所述第二中心孔内，针芯的一端设有用于连接对插的SMA接口的第一针槽，另一端设有用于安装弹性信号探针的第二针槽，弹性信号探针的一端安装在第二针槽内。本发明提供的微波测试连接器，可以做到无损伤测试，能够缩短测试时间，提高测试的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 微波 测试 连接器 方法 | ||
【主权项】：
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