[发明专利]应用于5G元件的谐振腔及测试方法在审
| 申请号： | 202010736819.X | 申请日： | 2020-07-28 |
| 公开（公告）号： | CN111751626A | 公开（公告）日： | 2020-10-09 |
| 发明（设计）人： | 许光;吴继伟;杨国兴 | 申请（专利权）人： | 大连达利凯普科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26;G01R27/28 |
| 代理公司： | 大连智高专利事务所(特殊普通合伙) 21235 | 代理人： | 马庆朝 |
| 地址： | 116630 辽宁省大连*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 一种应用于5G元件的谐振腔及测试方法，属于谐振腔测试技术领域。方案如下：程序初始化，输入测试参数；输入谐振腔的校准参数；依次寻找第一至第八谐振点的频率，降低扫描时间，减小扫描范围，重新扫描，分别读取各谐振点的频率和Q值；计算分别计算每个谐振点的ESR值、Corrected ESR值、Cp值和Q值。有益效果：本发明所述的应用于5G元件的谐振腔测试方法通过使用矢量网络分析仪，可计算高Q电容3.5GHz以下各个谐振点的ESR值等参数，测试精度更高，测试效率更快。 | ||
| 搜索关键词： | 应用于 元件 谐振腔 测试 方法 | ||
【主权项】：
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