[发明专利]屏幕残影的测试方法在审
| 申请号： | 202010738748.7 | 申请日： | 2020-07-28 |
| 公开（公告）号： | CN113176678A | 公开（公告）日： | 2021-07-27 |
| 发明（设计）人： | 骆志锋;卢建灿;胡燮;夏明星 | 申请（专利权）人： | 深圳同兴达科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 | 代理人： | 彭涛;刘曰莹 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙华区观澜街道新澜*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： |
本发明涉及屏幕显示技术领域，尤其涉及一种屏幕残影的测试方法,包括如下步骤：步骤S1：将屏幕上的像素点的灰度值全部设置为128；步骤S2：第一次测试并记录屏幕整体亮度值LV |
||
| 搜索关键词： | 屏幕 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳同兴达科技股份有限公司，未经深圳同兴达科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010738748.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：显示屏画面切换与帧率匹配度的测试方法
- 下一篇：血流测量方法、设备及存储介质
