[发明专利]大规模集成电路的测试方法及系统有效
| 申请号： | 202010747756.8 | 申请日： | 2020-07-30 |
| 公开（公告）号： | CN111624475B | 公开（公告）日： | 2020-11-06 |
| 发明（设计）人： | 杨兵 | 申请（专利权）人： | 北京燧原智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 100191 北京市海淀区知春路23*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种大规模集成电路的测试方法及系统。该方法包括：检验人员根据需求规格书中的时钟和复位需求完成验证规格书，验证规格书为验证人员根据需求规格书中的时钟和复位需求完成的，根据验证规格书生成通用验证环境；检验人员根据待测电路和电路规格书填写绑定输入文件模板，得到绑定输入文件；根据绑定输入文件生成绑定组件，绑定组件将待测电路的电路信息和基于电路规格书得到的验证激励配置到通用验证环境的检验器中，得到完整验证环境；检验器根据验证激励和完整验证环境对待测电路进行测试。能够更早的启动电路测试工作，无需等待电路规格书的形成，缩短了电路测试的等待时间，提高电路测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 大规模集成电路 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京燧原智能科技有限公司，未经北京燧原智能科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010747756.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
