[发明专利]一种晶体晶振的电性能参数测试设备在审
| 申请号： | 202010752619.3 | 申请日： | 2020-07-30 |
| 公开（公告）号： | CN111751653A | 公开（公告）日： | 2020-10-09 |
| 发明（设计）人： | 陈桂东;刘贵枝;胡聪 | 申请（专利权）人： | 天津必利优科技发展有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/01 | 分类号： | G01R31/01 |
| 代理公司： | 天津企兴智财知识产权代理有限公司 12226 | 代理人： | 刘影 |
| 地址： | 300380 天津市滨海新区高新区塘*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种晶体晶振的电性能参数测试设备，包括从上至下依次设置的上机架、工作大板、下机架，工作大板的顶部间隔设置有两个用以放置晶体料盘的弹夹组件，两个弹夹组件的后方均设有用以移动晶体料盘的放料组件，放料组件的上方设有用以抓取及移动晶体的取料组件，两个弹夹组件之间设有用以测试电性能参数的测试组件。本发明所述的晶体晶振的电性能参数测试设备可以实现晶体的取料、放料、移动、测试、识别、排列的一体化测试设备，自动化程度高，操作方便。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 晶体 性能参数 测试 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津必利优科技发展有限公司，未经天津必利优科技发展有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010752619.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种驱动部件及其天窗装置
- 下一篇：一种烛式过滤器
