[发明专利]实现可快速测试的存储器内建自测试系统及其方法在审
| 申请号： | 202010757710.4 | 申请日： | 2020-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN114067899A | 公开（公告）日： | 2022-02-18 |
| 发明（设计）人： | 李亚菲;华纯;华晶;刘欣洁 | 申请（专利权）人： | 华润微集成电路（无锡）有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12;G11C29/14 |
| 代理公司： | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人： | 王洁 |
| 地址： | 214135 江苏省无锡市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种实现可快速测试的存储器内建自测试系统，包括测试控制电路模块，接收外部的测试使能信号bist_en，用于控制测试电路的运转；测试向量选择电路模块用于根据测试向量选择信号pattern_sel选择一个或多个测试向量进行测试；测试向量产生电路模块用于产生测试向量；响应分析电路模块用于比较存储器中读取的数值与测试向量。本发明还涉及一种实现可快速测试的存储器内建自测试方法。采用了本发明的实现可快速测试的存储器内建自测试系统及其方法，对于其它存储器及算法同样适用，根据特定的存储器故障选择一个或多个不同的测试向量，不同的存储器故障可以选择不同的测试向量，适用于不同的存储器及算法。 | ||
| 搜索关键词： | 实现 快速 测试 存储器 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
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