[发明专利]半导体封装方法及半导体封装结构有效

专利信息
申请号: 202010758958.2 申请日: 2020-07-31
公开(公告)号: CN111883441B 公开(公告)日: 2022-08-26
发明(设计)人: 霍炎;涂旭峰 申请(专利权)人: 矽磐微电子(重庆)有限公司
主分类号: H01L21/56 分类号: H01L21/56;H01L23/31;H01L23/495;H01L23/498
代理公司: 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 代理人: 林祥
地址: 401331 重*** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 本申请提供一种半导体封装方法及半导体封装结构。该半导体封装方法包括:将引线框与多个待封装芯片贴装于载板上,且多个待封装芯片位于引线框的镂空区域中;通过包封层覆盖在待封装芯片、引线框以及露出的载板上,且填充于引线框的镂空区域内,形成包封结构件;在包封结构件的第一表面形成第一再布线结构,第一再布线结构与待封装芯片的正面以及引线框的第一面均电连接,在包封结构件的第二表面形成第二再布线结构,第二再布线结构与引线框的第二面电连接。该半导体封装结构通过该半导体封装方法制得。本申请的半导体封装结构通过引线框和双面重布线互连工艺,实现了芯片的双面互连封装,提升了产品的薄型化,可增强产品的电学信赖性。
搜索关键词: 半导体 封装 方法 结构
【主权项】:
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