[发明专利]一种半导体表面处理方法在审
申请号: | 202010765273.0 | 申请日: | 2020-08-03 |
公开(公告)号: | CN114059026A | 公开(公告)日: | 2022-02-18 |
发明(设计)人: | 何际福 | 申请(专利权)人: | 东莞新科技术研究开发有限公司 |
主分类号: | C23C14/34 | 分类号: | C23C14/34;C23C14/16;H01L21/3205 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝传鑫 |
地址: | 523087 *** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: |
本发明公开了一种半导体表面处理方法,包括:对半导体表面进行预清洗;将半导体放置于浓度为5%的硫酸溶液中清洗5min;将半导体放置于温度为50℃~60℃的去离子水中漂洗20min~30min,并烘干;将半导体放入真空溅射炉中,采用溅射方式在半导体衬底的表面镀上铝,并在温度为350℃、氮气流量为8.5L/min的条件下进行硅铝合金处理,相应形成第一合金层;抽真空至真空度为9Pa~10 |
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搜索关键词: | 一种 半导体 表面 处理 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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