[发明专利]一种芯片调试系统、方法、装置、设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 202010769827.4 申请日: 2020-08-04
公开(公告)号: CN111737155B 公开(公告)日: 2020-12-08
发明(设计)人: 吴飞;崔駜雄;刘彦 申请(专利权)人: 北京燧原智能科技有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 孟金喆
地址: 100191 北京市海淀区知春路23*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明实施例公开了一种芯片调试系统、方法、装置、设备及存储介质。其中,系统包括:调试软件模块、至少一个芯片内部待调试模块、调试侧写模块以及调试信息存储模块。本发明实施例可以通过只包含最简略的信息的调试数据包减少总线带宽消耗,可以通过调试侧写模块将各调试数据包的发出时间戳和对应的芯片内部待调试模块标识信息添加至各调试数据包中,得到对应的时间戳调试包,以使后续调试软件模块根据时间戳调试包中的原始包标识符、时间戳信息、芯片内部待调试模块标识信息、事件类型标志以及补充信息,恢复出待调试程序在各芯片内部待调试模块中的分发处理时间点和耗时信息,得到芯片的清晰的系统性能画像,提升芯片调试的可见性。
搜索关键词: 一种 芯片 调试 系统 方法 装置 设备 存储 介质
【主权项】:
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