[发明专利]基于LLD和GR联合刻度的致密砂岩密度测井曲线校正方法在审
| 申请号： | 202010777849.5 | 申请日： | 2020-08-05 |
| 公开（公告）号： | CN114063193A | 公开（公告）日： | 2022-02-18 |
| 发明（设计）人： | 赵荣华;张威;贾会冲;曹桐生;赵兰;王路;丁烽娟 | 申请（专利权）人： | 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司华北油气分公司 |
| 主分类号： | G01V13/00 | 分类号： | G01V13/00 |
| 代理公司： | 郑州睿信知识产权代理有限公司 41119 | 代理人： | 史萌杨 |
| 地址： | 100728 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明属于石油天然气勘探开发技术领域，具体涉及一种基于LLD和GR联合刻度的致密砂岩密度测井曲线校正方法。该方法首先确定砂岩段的深度；然后确定砂岩段的非扩径段和扩径段；接着对非扩径段的实测数据进行回归分析，所述实测数据包括实测密度数据以及对应深度的实测深侧向电阻率、实测自然伽马值，得到非扩径段关系模型，并将非扩径段关系模型作为扩径段关系模型；最后根据扩径段的深侧向电阻率测井曲线和自然伽马测井曲线，以及扩径段关系模型，得到扩径段校正后的密度测井曲线。本发明确定的地层密度更准确，更接近真实的地层密度测井值。该方法可操作性强，影响因素小，校正准确度高，可以提高油气田勘探和开发中致密砂岩气层识别成功率。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 lld gr 联合 刻度 致密 砂岩 密度 测井 曲线 校正 方法 | ||
【主权项】：
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