[发明专利]自动曝光检测功能测试设备、系统以及测试方法在审
申请号: | 202010784765.4 | 申请日: | 2020-08-06 |
公开(公告)号: | CN111999762A | 公开(公告)日: | 2020-11-27 |
发明(设计)人: | 康宏伟 | 申请(专利权)人: | 上海昊博影像科技有限公司 |
主分类号: | G01T7/00 | 分类号: | G01T7/00;G01N23/04 |
代理公司: | 广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙) 44288 | 代理人: | 曾令军 |
地址: | 201114 上海市闵*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供一种自动曝光检测功能测试设备、系统以及测试方法,该自动曝光检测功能测试设备的LED光源与控制器连接;LED光源固定在暗盒内部一侧,且LED光源的出光面朝向暗盒内部放置平板探测器的一侧;控制器固定在暗盒外部,与LED光源连接,控制器控制LED光源发出时长和光强随机的光信号,并将光信号对应的曝光参数发送给计算机以检测平板探测器的自动曝光检测功能。本发明通过LED光源向平板探测器发出时长和光强随机的光信号,根据该光信号检测平板探测器的自动曝光检测功能,实现了自动化测试,降低了人工误差,且通过对光信号的随机设置,能够最大程度模拟现实曝光条件,测试的涵盖面光,不需要X射线,对人体无辐射,降低了X光器件损耗。 | ||
搜索关键词: | 自动 曝光 检测 功能 测试 设备 系统 以及 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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