[发明专利]多时钟域的数字测试电路、数字集成电路测试系统在审
| 申请号： | 202010788612.7 | 申请日： | 2020-08-07 |
| 公开（公告）号： | CN111913522A | 公开（公告）日： | 2020-11-10 |
| 发明（设计）人： | 赵阳;钟锋浩 | 申请（专利权）人： | 杭州长川科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F1/06 | 分类号： | G06F1/06;G06F1/10;G06F11/22 |
| 代理公司： | 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 | 代理人： | 聂磊 |
| 地址： | 310051 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本申请涉及多时钟域的数字测试电路和数字集成电路测试系统，多时钟域的数字测试电路包括：第一高精度时钟发生器、背板时钟总线接口、第一时钟选择单元、时钟输出通道；第一高精度时钟发生器的输出端和背板时钟总线接口的输出端分别和第一时钟选择单元的两个输入端电连接，第一时钟选择单元的输出端和时钟输出通道的输入端电连接；第一高精度时钟发生器用于生成第一时钟域的时钟信号；背板时钟总线接口用于从背板时钟总线获取第二时钟域的时钟信号，两者为非同步的时钟域；第一时钟选择单元用于选择其中一个时钟域的信号输出到时钟输出通道。本申请解决了数字测试系统无法满足高精度、多时钟域的测试需求的问题，实现了高精度、多时钟域的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 多时 数字 测试 电路 数字集成电路 系统 | ||
【主权项】：
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