[发明专利]光学试验用装置和光学测定器具的试验方法在审
| 申请号： | 202010789533.8 | 申请日： | 2020-08-07 |
| 公开（公告）号： | CN112666540A | 公开（公告）日： | 2021-04-16 |
| 发明（设计）人： | 菅原聪洋;樱井孝夫 | 申请（专利权）人： | 株式会社爱德万测试 |
| 主分类号： | G01S7/497 | 分类号： | G01S7/497;G01S17/894;G01S17/10 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 曾贤伟;郝庆芬 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供光学试验用装置和光学测定器具的试验方法。不再现设想实际进行测定的实际环境就能够进行光学测定器具的试验。光学试验用装置在对光学测定器具进行试验时使用，该光学测定器具向入射对象提供来自光源的入射光脉冲，取得入射光脉冲被该入射对象反射的反射光脉冲。光学试验用装置具备：输出试验用光脉冲的2个以上的试验用光源；2个以上的液晶屏，其具有光透射区域，从2个以上的试验用光源分别接受试验用光脉冲，并使其透过光透射区域；半反射镜，其对透过了2个以上的液晶屏的试验用光脉冲进行合波，提供给光学测定器具。光透射区域分别与在入射对象中相对于光学测定器具的距离是固定的距离固定面对应。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 试验 装置 测定 器具 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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