[发明专利]光学放大器和光学放大器的检查方法在审
| 申请号： | 202010824502.1 | 申请日： | 2020-08-17 |
| 公开（公告）号： | CN112542765A | 公开（公告）日： | 2021-03-23 |
| 发明（设计）人： | 高林和雅;秋山杰 | 申请（专利权）人： | 富士通光器件株式会社 |
| 主分类号： | H01S5/042 | 分类号： | H01S5/042;H01S5/028;H01S5/223;H01S5/50;H01S5/00 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 段丹辉;刘久亮 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 光学放大器和光学放大器的检查方法。一种光学放大器包括：光学放大器芯片，该光学放大器芯片包括一对半导体光学放大器(SOA)；U形波导，该U形波导连接该对SOA；以及两个电极，所述两个电极分别与该对SOA对应并且彼此分离；以及基底基板，该基底基板包括连接所述两个电极的公共金属布线，并且所述光学放大器芯片安装在所述基底基板上。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 放大器 检查 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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