[发明专利]半导体装置在审

专利信息
申请号: 202010830162.3 申请日: 2020-08-18
公开(公告)号: CN112563243A 公开(公告)日: 2021-03-26
发明(设计)人: 黄柏瑜;林诗哲;王朝勋;赵高毅;王美匀 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L23/528 分类号: H01L23/528;H01L21/768;H01L29/78;H01L21/336
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 聂慧荃;闫华
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 公开了一种半导体装置,源极/漏极位于基板上。源极/漏极接点位于源极/漏极上。第一通孔位于源极/漏极接点上。第一通孔具有横向凸出的底部,与位于横向凸出的底部上的顶部。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
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