[发明专利]磁材倒角检测方法、装置、电子设备及可读存储介质在审
| 申请号： | 202010836042.4 | 申请日： | 2020-08-19 |
| 公开（公告）号： | CN111968092A | 公开（公告）日： | 2020-11-20 |
| 发明（设计）人： | 张发恩;刘强强 | 申请（专利权）人： | 创新奇智（上海）科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/12;G06T7/13;G06T7/136;G06T7/62;G06T7/66;G01B11/26 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 蒋姗 |
| 地址： | 201900 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请提供一种磁材倒角检测方法、装置、电子设备及可读存储介质，方法包括：获取磁材图像的各弧边；依据各弧边，构建各弧边对应的拟合圆；获取各弧边对应的拟合圆的半径，各拟合圆的半径为各拟合圆对应的弧边的倒角尺寸。本申请方案可以通过电子设备实现，从而自动实现对于弧边的倒角尺寸的标定检测，相对于人工检测的方式而言，不受主观因素影响，检测精度更为准确，同时相对于人工检测方而言，效率也更高，成本更低，更具工业实用性。 | ||
| 搜索关键词： | 倒角 检测 方法 装置 电子设备 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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