[发明专利]自校准去扭斜设备在审

专利信息
申请号: 202010879595.8 申请日: 2020-08-27
公开(公告)号: CN112444768A 公开(公告)日: 2021-03-05
发明(设计)人: E·V·布鲁什 申请(专利权)人: 是德科技股份有限公司
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00;G01R1/30;G01R1/28;G01R1/073
代理公司: 北京坤瑞律师事务所 11494 代理人: 封新琴
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种去扭斜设备(100)包括:第一和第二去扭斜探测点(110和120),所述去扭斜探测点用于在去扭斜校准期间分别接触第一和第二探针(115和125);信号发生电路(130),所述信号发生电路用于生成被提供给所述第一和第二去扭斜探测点(110和120)的校准信号;和反馈回路,所述反馈回路用于自动地自校准所述去扭斜设备(100)。
搜索关键词: 校准 去扭斜 设备
【主权项】:
暂无信息
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