[发明专利]一种红外探测器质量检测方法及装置有效
| 申请号： | 202010897283.X | 申请日： | 2020-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN112113671B | 公开（公告）日： | 2021-08-20 |
| 发明（设计）人： | 柳龙飞;田鹏;崔昌浩;黄晟;王鹏;周汉林;李林 | 申请（专利权）人： | 武汉高德智感科技有限公司 |
| 主分类号： | G01J5/52 | 分类号： | G01J5/52 |
| 代理公司： | 北京集智东方知识产权代理有限公司 11578 | 代理人： | 吴倩;龚建蓉 |
| 地址： | 430205 湖北省武汉市东湖新技术*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种红外探测器质量检测方法及装置，其包括如下步骤：在预设距离下，分别计算M个不同温度黑体的红外辐射与最低温度黑体的红外辐射之间的差值；获取M个黑体的黑体温度与该预设距离下的M个红外辐射差异值的函数关系；判断红外探测器质量是否合格。本发明采用黑体代替热像仪内部的遮挡部件来获得红外辐射差异值，最终获得的数据稳定性更好，同时采用分段拟合得到红外辐射差异值和温度的函数关系，误差更小，可准确筛选出质量不合格的探测器。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 红外探测器 质量 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
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