[发明专利]一种芯片测试方法及相关设备有效
| 申请号： | 202010909052.6 | 申请日： | 2020-09-02 |
| 公开（公告）号： | CN111766509B | 公开（公告）日： | 2020-12-25 |
| 发明（设计）人： | 谢长华 | 申请（专利权）人： | 深圳芯邦科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙) 44285 | 代理人： | 李杭 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市坪山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种芯片测试方法及相关设备，可以提高芯片管脚测试的测试效率，减少测试时长。该方法包括：通过目标芯片的第一目标管脚获取目标时序信号；对所述目标时序信号进行分析，以判断所述目标时序信号是否为管脚测试指令，所述管脚测试指令与所述目标芯片的N个待测管脚中每个待测管脚对应的M个待测项目相对应；当所述目标时序信号为所述管脚测试指令时，启动计时器，并在所述计时器的计时时长达到预设时长时，断开所述N个待测管脚与测试机的连接；获取与所述管脚测试指令对应的测试参数；根据与所述管脚测试指令对应的测试参数对所述N个待测管脚中每个待测管脚对应的M个待测项目进行测试，得到测试结果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 方法 相关 设备 | ||
【主权项】：
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