[发明专利]一种高精度集成轨道几何参数测量方法在审
| 申请号： | 202010919237.5 | 申请日： | 2020-09-04 |
| 公开（公告）号： | CN112227121A | 公开（公告）日： | 2021-01-15 |
| 发明（设计）人： | 刘玉鹏;周涛;韦晓莹;王喜春;张孟辰 | 申请（专利权）人： | 天津津航技术物理研究所 |
| 主分类号： | E01B35/00 | 分类号： | E01B35/00 |
| 代理公司： | 天津市鼎拓知识产权代理有限公司 12233 | 代理人： | 刘雪娜 |
| 地址： | 300000 天津*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本申请提供一种高精度集成轨道几何参数测量方法，集成轨道包括多条目标轨道，包括以下步骤：通过光源照射目标轨道；通过图像采集设备对目标轨道上的图像进行采集；对采集的图像通过图像识别算法提取光条图像信息；将光源和图像接收设备同时移动设定距离后继续提取光条图像信息，直至光源和图像接收设备移动遍历目标轨道；将提取的目标轨道的各个光条图像信息沿该轨道方向进行拟合，得到目标轨道的几何参数；将各条目标轨道的外形几何统一基准，得到集成轨道的整体几何参数。采用高精度识别算法对图像中的光条进行提取，提高了轨道几何参数测量的效率和准确度；通过非接触式测量手段实现了对集成轨道总体几何参数情况的评价。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高精度 集成 轨道 几何 参数 测量方法 | ||
【主权项】：
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