[发明专利]用于晶圆载置的真空吸盘系统在审
申请号: | 202010919971.1 | 申请日: | 2020-09-04 |
公开(公告)号: | CN112071797A | 公开(公告)日: | 2020-12-11 |
发明(设计)人: | 刘远航;马旭;赵德文;王江涛 | 申请(专利权)人: | 华海清科股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 300350 天津市津*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于晶圆载置的真空吸盘系统,包括用于吸附并保持晶圆的吸盘、第一密封腔室、第二密封腔室、第一电磁阀、第二电磁阀和第三电磁阀;吸盘通过管路依次连接第一密封腔室、第一电磁阀、第二密封腔室和第二电磁阀,第一密封腔室连接负压源从而为吸盘提供持续的吸附力并将从吸盘吸引的气体与液体、固体颗粒分离,第二密封腔室分别连接负压源和正压源以在第二密封腔室连通负压源并且第一电磁阀导通时从第一密封腔室吸引液体和/或固体颗粒以及在第二密封腔室连通正压源并且第二电磁阀导通时将其中的液体和/或固体颗粒排出;第二密封腔室的气路端口和负压源之间连接第三电磁阀。 | ||
搜索关键词: | 用于 晶圆载置 真空 吸盘 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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