[发明专利]一种密集测点用测试探针治具及其制备方法在审
| 申请号： | 202010932882.0 | 申请日： | 2020-09-08 |
| 公开（公告）号： | CN112285393A | 公开（公告）日： | 2021-01-29 |
| 发明（设计）人： | 李红叶;丁崇亮;申啸;张小英 | 申请（专利权）人： | 渭南高新区木王科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067;G01R1/04 |
| 代理公司： | 西安毅联专利代理有限公司 61225 | 代理人： | 王昊 |
| 地址： | 710000 陕西省渭南市高*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种密集测点用测试探针治具，包括：一绝缘基座；多个导电体，多个所述导电体设置在所述绝缘基座内，并且每个导电体的两端分别从绝缘基座伸出；多个探头，每个所述导电体的两端均设置有一个探头。本发明还公开了一种密集测点用测试探针治具的制备方法，具体按照以下步骤实施：步骤1，在绝缘基座上加工多个通孔；步骤2，在每个通孔中分别布置一个导电体；步骤3，在通孔与通孔内布置的导电体之间滴加密封胶，待密封胶凝固后，即完成封装；步骤4，先将导电体的两端磨平，在每个导电体的两端电镀铜合金或者钯合金等良好导体，形成突出探头的结构，然后两端分别镀上镍层，再在镍层上镀上金层，完成探头加工，得到密集测点用测试探针治具。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 密集 测点用 测试 探针 及其 制备 方法 | ||
【主权项】：
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