[发明专利]测试系统在审

专利信息
申请号: 202010947123.1 申请日: 2020-09-10
公开(公告)号: CN114172594A 公开(公告)日: 2022-03-11
发明(设计)人: 科比特·罗威尔;贝努瓦·德拉;亨利·格洛普;马库斯·赫布里格 申请(专利权)人: 罗德施瓦兹两合股份有限公司
主分类号: H04B17/20 分类号: H04B17/20;H04M1/24
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 谭营营;胡彬
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种测试系统,用于在空中测试被测设备。该测试系统包括用于被测设备的测试位置、面向测试位置的反射器和指向反射器的测量馈送天线,从而通过反射器在测量馈送天线和测试位置之间建立信号路径。该测试系统包括用于被测设备的定位器,其能够将被测设备旋转到被测设备的至少四个不同的测量位置。该测试系统包括第二测量天线,将被测设备放置在测试位置上时,所述第二测量天线的位置偏离所述被测设备的面向第二测量天线的一侧面的中心。还公开一种在空中测试被测设备的方法。
搜索关键词: 测试 系统
【主权项】:
暂无信息
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