[发明专利]光子计数探测器去极化的方法、系统和计算机设备有效
| 申请号： | 202010987525.4 | 申请日： | 2020-09-18 |
| 公开（公告）号： | CN112162310B | 公开（公告）日： | 2023-01-03 |
| 发明（设计）人： | 李晓超 | 申请（专利权）人： | 上海联影医疗科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/24 | 分类号： | G01T1/24 |
| 代理公司： | 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 | 代理人： | 金无量 |
| 地址： | 201807 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请涉及一种光子计数探测器去极化的方法、系统和计算机设备，其中，该光子计数探测器去极化的方法包括：通过根据晶体生长过程中产生的缺陷能级，确定光照设备的光照波长范围，根据所述光照波长范围，控制所述光照设备照射所述光子计数探测器，解决了相关技术中光子计数能谱CT的光子计数探测器计数不精确的问题，提高了光子计数能谱CT中光子计数探测器计数精度。 | ||
| 搜索关键词： | 光子 计数 探测器 去极化 方法 系统 计算机 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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