[发明专利]一种磁角度传感器测试装置在审
申请号: | 202010989469.8 | 申请日: | 2020-09-18 |
公开(公告)号: | CN112097821A | 公开(公告)日: | 2020-12-18 |
发明(设计)人: | 黄黎;蒋乐跃;丁希聪;储莉玲 | 申请(专利权)人: | 美新半导体(无锡)有限公司 |
主分类号: | G01D18/00 | 分类号: | G01D18/00;G01B7/30;G01D5/14 |
代理公司: | 苏州简理知识产权代理有限公司 32371 | 代理人: | 朱亦倩 |
地址: | 214000 江苏省无锡*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种磁角度传感器测试装置,其包括:第一基板;电机,其设置于第一基板上,电机包括电机主体和电机转轴;磁场源,其用于产生外磁场,磁场源设置于所述第一基板上,在测试时所述磁场源保持不动;其中,待测磁角度传感器固定于所述电机的电机转轴上,且与磁场源相对。与现有技术相比,本发明将磁场源固定不动,将待测磁角度传感器固定于电机转轴上。在测试过程中,电机带动待测磁角度传感器旋转,该旋转角度作为参考角度,根据传感器的输出来标定其性能参数,从而不仅可以规避或剔除由地磁场带来的系统误差,而且还可以将其他恒定弱磁场干扰源可能带来的角度误差一起消除,进而提高对磁角度传感器的转角测试的测量精度。 | ||
搜索关键词: | 一种 角度 传感器 测试 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于美新半导体(无锡)有限公司,未经美新半导体(无锡)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010989469.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种垃圾分类提醒示意垃圾桶
- 下一篇:一种悬置结构