[发明专利]一种半导体装置及其探针测试方法

摘要

本发明公开了一种半导体装置，包括上壳体和下壳体，所述上壳体和下壳体的相对面设置有连接管，所述上壳体的内壁开设有螺纹槽，所述螺纹槽的内壁螺纹连接有长度调节管，所述长度调节管的外表面开设有外螺纹槽；本发明还提出一种半导体装置的探针测试方法，包括以下步骤：S1、旋转下壳体，将下壳体从连接管上取下，将连接柱螺纹安装在传动压杆的底端。该半导体测试探针，通过设置左钳体、右钳体和复位弹簧，按压传动压杆，在复位弹簧作用下左钳体和右钳体呈张开状态，将左钳体和右钳体卡接在半导体引脚两侧，松开传动压杆使其将引脚夹紧，固定，不用用手长时间压着，方便对半导体进行测试，从而实现连接牢固的效果。