[发明专利]一种含有光学消旋组件的光学系统的像质测试装置及方法有效
| 申请号： | 202011004257.6 | 申请日： | 2020-09-22 |
| 公开（公告）号： | CN112304574B | 公开（公告）日： | 2022-11-01 |
| 发明（设计）人： | 李珂;焦燕;宋新明;李豪;韩放;王永亮 | 申请（专利权）人： | 华中光电技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一七研究所） |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 武汉蓝宝石专利代理事务所(特殊普通合伙) 42242 | 代理人： | 方菲 |
| 地址： | 430000 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种含有光学消旋组件的光学系统的像质测试装置及方法，其像质测试装置包括准直光学系统、含有光学消旋组件的光学系统、像方接收系统，所述准直光学系统，用于产生含有光学消旋组件的光学系统的像质测试所需的准直目标光束；所述含有光学消旋组件的光学系统位于准直光学系统的出射光路上，用于对所述准直光学系统成像；所述像方接收系统位于含有光学消旋组件的光学系统的成像光路上，用于接收所述含有光学消旋组件的光学系统的出射像并对其进行MTF测试。本发明通过观察和计算出射像的偏差进行针对性调整，解决了含有光学消旋组件的光学系统的像质测试的问题，保证了系统像质测试精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 含有 光学 组件 光学系统 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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