[发明专利]NORD闪存器件的制作方法有效

专利信息
申请号: 202011007241.0 申请日: 2020-09-23
公开(公告)号: CN112185972B 公开(公告)日: 2022-10-04
发明(设计)人: 张剑;熊伟;陈华伦 申请(专利权)人: 华虹半导体(无锡)有限公司
主分类号: H01L27/11521 分类号: H01L27/11521
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 黎伟
地址: 214028 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 本申请公开了一种NORD闪存器件的制作方法,包括:对衬底上的衬垫氧化层进行刻蚀去除,衬底所在的平面包括第一有源区和第二有源区,第一有源区和第二有源区之间形成有STI结构;在衬底上形成第一栅氧层;通过干法刻蚀工艺和湿法刻蚀工艺对第一栅氧层进行刻蚀去除;在衬底上形成第二栅氧层,第二栅氧层的厚度小于第一栅氧层的厚度;在第二栅氧层和STI结构上形成多晶硅层;对多晶硅层进行刻蚀,在第一有源区形成第一栅极,在第二有源区形成第二栅极。本申请通过在NORD闪存器件的制作过程中,通过干法刻蚀工艺和湿法刻蚀工艺对第一栅氧层进行去除能够使STI结构刻蚀的凹坑深度较浅,从而提高了器件的可靠性。
搜索关键词: nord 闪存 器件 制作方法
【主权项】:
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