[发明专利]产品测试数据的检测方法、系统、电子设备和存储介质在审
| 申请号： | 202011007511.8 | 申请日： | 2020-09-23 |
| 公开（公告）号： | CN114254261A | 公开（公告）日： | 2022-03-29 |
| 发明（设计）人： | 徐琨 | 申请（专利权）人： | 爱德万测试股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/18 | 分类号： | G06F17/18;G06N3/12 |
| 代理公司： | 上海弼兴律师事务所 31283 | 代理人： | 薛琦;林嵩 |
| 地址： | 日本东京都千*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种产品测试数据的检测方法、系统、电子设备和存储介质，该检测方法包括获取多个历史批次产品的历史测试数据；对历史测试数据进行筛选以获取中间测试数据；根据预设测试参数对中间测试数据进行分组以获取第一分组；根据第一分组的中间测试数据获取第一分组的分布类型；在分布类型为预设分布类型时将分布类型对应的第一分组作为目标分组；根据目标分组对应的中间测试数据获取目标测试限值。本发明基于历史测试数据确定初始测试限值，实现在新批次产品检测之前收紧关键限值，以保证对新批次产品的测试数据的检测准确性；能够自适应地对测试限值的动态调整，实时有效地检测出存在异常数据的芯片测试数据，提高了芯片的测试质量。 | ||
| 搜索关键词： | 产品 测试数据 检测 方法 系统 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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