[发明专利]一种用于导引头测试转台的高精度“轴套轴”双轴系结构在审

专利信息
申请号: 202011008172.5 申请日: 2020-09-23
公开(公告)号: CN112065866A 公开(公告)日: 2020-12-11
发明(设计)人: 张长清;余沛;余祖珏;廖瑞珍 申请(专利权)人: 九江精密测试技术研究所
主分类号: F16C35/12 分类号: F16C35/12;F16C19/54;H02K7/00;F41G3/32
代理公司: 南昌新天下专利商标代理有限公司 36115 代理人: 谢德珍
地址: 332000 *** 国省代码: 江西;36
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摘要: 发明公开了一种用于导引头测试转台的高精度“轴套轴”双轴系结构,包括内环主轴,所述内环主轴上从上至下依次套装有内环上轴承组件、内环驱动电机组件、下轴承组件;所述内环上轴承组件外侧套装有外环主轴,外环主轴上端固定有内环上轴承端盖,外环主轴外侧套装有转台轴承和外环驱动电机组件,转台轴承和外环驱动电机组件均与底座固定连接;所述内环驱动电机组件和下轴承组件经固定架与底座固定连接。本发明能够解决现有的导引头测试转台两框无法独立运动,两框精度低、隔离度差的问题,从而满足高性能导引头各项性能指标的测试和考核。
搜索关键词: 一种 用于 导引 测试 转台 高精度 轴套 双轴系 结构
【主权项】:
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