[发明专利]一种用于导引头测试转台的高精度“轴套轴”双轴系结构在审
申请号: | 202011008172.5 | 申请日: | 2020-09-23 |
公开(公告)号: | CN112065866A | 公开(公告)日: | 2020-12-11 |
发明(设计)人: | 张长清;余沛;余祖珏;廖瑞珍 | 申请(专利权)人: | 九江精密测试技术研究所 |
主分类号: | F16C35/12 | 分类号: | F16C35/12;F16C19/54;H02K7/00;F41G3/32 |
代理公司: | 南昌新天下专利商标代理有限公司 36115 | 代理人: | 谢德珍 |
地址: | 332000 *** | 国省代码: | 江西;36 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于导引头测试转台的高精度“轴套轴”双轴系结构,包括内环主轴,所述内环主轴上从上至下依次套装有内环上轴承组件、内环驱动电机组件、下轴承组件;所述内环上轴承组件外侧套装有外环主轴,外环主轴上端固定有内环上轴承端盖,外环主轴外侧套装有转台轴承和外环驱动电机组件,转台轴承和外环驱动电机组件均与底座固定连接;所述内环驱动电机组件和下轴承组件经固定架与底座固定连接。本发明能够解决现有的导引头测试转台两框无法独立运动,两框精度低、隔离度差的问题,从而满足高性能导引头各项性能指标的测试和考核。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 导引 测试 转台 高精度 轴套 双轴系 结构 | ||
【主权项】:
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