[发明专利]一种同时自动测量FRET系统矫正参数和供受体消光系数比的方法及其应用

摘要

本发明公开了一种同时自动测量FRET系统矫正参数和供受体消光系数比的方法及其应用。该方法为先用串扰校正样本获得串扰系数a，b，c和d，然后将不同的FRET质粒分别单独转染细胞并进行E‑FRET成像，分别确定转染不同质粒的细胞的比值范围R；接着将各种FRET质粒分别单独转染细胞后混合培养并进行E‑FRET成像，获得相应细胞的比值R并进行细胞分类；最后根据细胞分类以及其对应的E‑FRET成像数据，计算或拟合得到G因子、k因子和消光系数比γ。本发明方法可以对实时采集到的细胞图像进行细胞分割和表达不同质粒的细胞分类，并根据细胞分类获得G因子、k因子和消光系数比γ，具有很高的稳定性和可靠性。