[发明专利]FPGA芯片内的测试激励生成单元有效
| 申请号： | 202011021891.0 | 申请日： | 2020-09-25 |
| 公开（公告）号： | CN112198423B | 公开（公告）日： | 2023-04-25 |
| 发明（设计）人： | 邬刚;陈永 | 申请（专利权）人： | 杭州加速科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3177 | 分类号： | G01R31/3177;G01R31/317;G01R1/28;G06F13/28 |
| 代理公司： | 北京市君合律师事务所 11517 | 代理人： | 王再芊;毕长生 |
| 地址： | 311121 浙江省杭州市余杭区*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种FPGA芯片内的测试激励生成单元。该测试激励生成单元包括：激励生成模块，用于生成被测用户逻辑单元所需要的激励信号或控制信号；PCIE模块，用于使激励生成模块和逻辑分析模块与外部计算机进行通信。本发明的测试激励生成单元可以在FPGA芯片內部产生被测用户逻辑单元所需要的激励信号或控制信号，从而能够高效灵活地为被测用户逻辑单元提供激励信号或控制信号。 | ||
| 搜索关键词： | fpga 芯片 测试 激励 生成 单元 | ||
【主权项】：
暂无信息
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