[发明专利]校准系统、校准方法及校准装置有效
| 申请号： | 202011027687.X | 申请日： | 2020-09-25 |
| 公开（公告）号： | CN112247741B | 公开（公告）日： | 2022-04-08 |
| 发明（设计）人： | 杨元坤;张汉杰;钟春明;黎海军 | 申请（专利权）人： | 深圳市裕展精密科技有限公司 |
| 主分类号： | B24B19/00 | 分类号： | B24B19/00;B24B41/00;B24B47/22;B24B49/16;B24B51/00 |
| 代理公司： | 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 | 代理人： | 林天成 |
| 地址： | 518109 广东省深圳市观澜富士康鸿观科技园B区厂*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请提供一种校准系统，用于确定打磨头的基准信息以通过打磨头打磨工件，该基准信息包含第一位置，校准系统包含打磨头、控制器和传感模组，控制器和打磨头耦接，控制器用于控制打磨头沿第一方向运动；传感模组用于基于打磨头沿第一方向运动，感测打磨头及工件中的至少一个所受的力，以形成第一压力值；控制器进一步用于确定第一压力值超过预设值，并基于第一压力值超过预设值确定第一位置。上述校准系统基于受力信息确定打磨头的基准信息，结构简单，便于实现且校准精度高，本申请同时提供一种校准方法和校准装置。 | ||
| 搜索关键词： | 校准 系统 方法 装置 | ||
【主权项】：
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