[发明专利]基于芯片工况的红外热像仪抗静电干扰方法及设备在审
| 申请号： | 202011030893.6 | 申请日： | 2020-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN112229520A | 公开（公告）日： | 2021-01-15 |
| 发明（设计）人： | 罗威;黄晟;王鹏;周汉林 | 申请（专利权）人： | 武汉高德智感科技有限公司 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00;G06F1/24 |
| 代理公司： | 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 | 代理人： | 郑飞 |
| 地址： | 430205 湖北省武汉市东湖新技术*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供了一种基于芯片工况的红外热像仪抗静电干扰方法及设备。所述方法包括：若红外热像仪的成像画面出现异常，则获取芯片的工况；根据所述芯片的工况，对红外热像仪进行复位，恢复红外成像画面。本发明实施例提供的基于芯片工况的红外热像仪抗静电干扰方法及设备，通过获取芯片工况，并根据获取的芯片工况对红外热像仪进行复位，可以在保证红外成像质量及不额外占用内部空间的前提下，有效提升红外热像仪的抗静电性能。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 芯片 工况 红外 热像仪 抗静电 干扰 方法 设备 | ||
【主权项】：
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