[发明专利]三极管及其形成方法有效

专利信息
申请号: 202011039072.9 申请日: 2020-09-28
公开(公告)号: CN112151603B 公开(公告)日: 2023-08-18
发明(设计)人: 顾培楼 申请(专利权)人: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
主分类号: H01L29/735 分类号: H01L29/735;H01L23/528;H01L21/331;H01L21/768
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 黎伟
地址: 201203 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 本申请公开了一种三极管及其形成方法,该三极管包括:衬底,其中形成有集电区、发射区和基区;介质层,其形成于衬底上,介质层中形成有第一金属连线、第二金属连线和第三金属连线,第一金属连线的底端与集电区连接,第二金属连线的底端与发射区连接,第三金属连线的底端与基区连接;第二金属连线的特征尺寸小于第一金属连线,第二金属连线的特征尺寸小于第三金属连线,第二金属连线的特征尺寸小于0.18微米。本申请通过将三极管中与发射区连接的金属连线的特征尺寸降低至0.18微米以下,从而增加了发射区的发射效率,在不改变三极管的结构的基础上,提高了三极管的放大倍数。
搜索关键词: 三极管 及其 形成 方法
【主权项】:
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