[发明专利]数字阵列时延测量方法有效
| 申请号： | 202011044811.3 | 申请日： | 2020-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN112260890B | 公开（公告）日： | 2022-09-02 |
| 发明（设计）人： | 唐洪军;钟瑜;方科;邵永杰 | 申请（专利权）人： | 西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所) |
| 主分类号： | H04L43/0852 | 分类号： | H04L43/0852;H04B17/364 |
| 代理公司： | 成飞(集团)公司专利中心 51121 | 代理人： | 郭纯武 |
| 地址： | 610036 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开的一种数字阵列时延测量方法，涉及测控、通信时延测量领域相控阵天线子阵时延测量。本发明通过下述技术方案实现：由时钟源产生的参考时钟送入时频系统，产生多路采样时钟和同步信号，分别分发到数字阵列系统不同子阵的延时测量模，子阵间同步触发时刻通过延时测量模块进行相位关系检测，得到各个通道输出信号；延时测量模将需要时延测量点的参考信号和每个子阵采集激励通道两级时钟，分发采样后产生的同步信号送入时钟同步系统FPGA，对多个通道间的相对时延进行测量，将参考信号与不同延迟时间做差频处理，差频后将测得的频域位置与延迟时间有关的单频信号进行时延运算，得到待测通道与参考通道间的相对时延值，计算出延迟时间。 | ||
| 搜索关键词： | 数字 阵列 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所)，未经西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所)许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011044811.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种温压变送器的无线传输系统及方法
- 下一篇：多级梯度热电制冷片热控装置
