[发明专利]CMOS图像传感器测试系统及方法有效
| 申请号： | 202011044845.2 | 申请日： | 2020-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN112165614B | 公开（公告）日： | 2023-06-02 |
| 发明（设计）人： | 宋博;于奇;李靖;王勇 | 申请（专利权）人： | 成都微光集电科技有限公司;电子科技大学 |
| 主分类号： | H04N17/00 | 分类号： | H04N17/00 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 曹廷廷 |
| 地址： | 610041 四川省成都市高新*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种CMOS图像传感器测试系统及方法，包括中央处理节点和多个测试节点，采用类似中央加边缘的星型网络结构执行CMOS图像传感器的测试。可通过中央处理节点灵活配置每个测试节点的测试项目，且节点之间互不影响，测试效率高。通过这种分布式的测试机台的设置，将传统串行或有限并行芯片测试的方案，改进为节点无限的星型网络分布式测试的方案，避免因为传统串行机台故障导致测试中断的问题，同时可以实现不同的测试节点实现不同的测试项目，提高了测试的灵活性和测试效率。且当某个测试节点发生故障时，不会影响其它测试节点的测试过程。可以灵活加减测试节点的数量，灵活调整测试成本及测试速度，灵活调整测试任务，鲁棒性强。 | ||
| 搜索关键词： | cmos 图像传感器 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于成都微光集电科技有限公司;电子科技大学，未经成都微光集电科技有限公司;电子科技大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011044845.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
