[发明专利]一种MCU低功耗模式切换的测试方法、装置及系统有效
| 申请号： | 202011048695.2 | 申请日： | 2020-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN112198865B | 公开（公告）日： | 2022-03-25 |
| 发明（设计）人： | 徐琴;钱斌;常夕阳;王瀚正 | 申请（专利权）人： | 中电海康无锡科技有限公司 |
| 主分类号： | G05B23/02 | 分类号： | G05B23/02 |
| 代理公司： | 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 | 代理人： | 殷红梅;陈丽丽 |
| 地址： | 214135 江苏省无锡市新吴区*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及MCU测试技术领域，具体公开了一种MCU低功耗模式切换的测试方法，其中，包括：根据上位机的测试指令向待测试MCU发送进入低功耗模式测试模式的控制信号；获取处于低功耗模式下的待测试MCU的第一状态检测信号；向所述待测试MCU发送唤醒信号，所述唤醒信号用于使得待测试MCU退出低功耗模式；获取退出低功耗模式的待测试MCU的第二状态检测信号；根据所述第一状态检测信号与所述第二状态检测信号的比较判断待测试MCU的低功耗模式切换是否正常，并得到判断结果；将所述判断结果发送至所述上位机进行显示。本发明还公开了一种MCU低功耗模式切换的测试装置及系统。本发明提供的MCU低功耗模式切换的测试方法能够实现自动一体化进行测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 mcu 功耗 模式 切换 测试 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
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