[发明专利]一种中子探测器可靠性验证方法及装置有效

专利信息
申请号: 202011049559.5 申请日: 2020-09-29
公开(公告)号: CN112213766B 公开(公告)日: 2023-10-20
发明(设计)人: 常宝富;黄显润;陈臻;高巍;吴长雷;陈邦续;刘桓宇;刘尧 申请(专利权)人: 中广核核电运营有限公司;中国广核集团有限公司;中国广核电力股份有限公司
主分类号: G01T3/00 分类号: G01T3/00;G01T7/00
代理公司: 深圳市瑞方达知识产权事务所(普通合伙) 44314 代理人: 张亚菊
地址: 518000 广东省深圳市福田*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种中子探测器可靠性验证方法及装置,包括:S1、获取中子探测器输出的原始脉冲,对所述原始脉冲预处理以得到处理后的初始脉冲;S2、对所述初始脉冲进行采样以获取采样信号,并设定一识别阈值对所述采样信号进行识别以获取满足所述识别阈值的采样信号为有效采样信号以缓存;S3、获取所述有效采样信号并对所述有效采样信号通过预设算法进行恢复得到有效脉冲;S4、根据所述有效脉冲的幅值和面积以获取所述中子探测器的性能。实施本发明能够达到根据采集脉冲进行频谱分析以达到评估探测器的可靠性的目的,其评价结果更加准确。
搜索关键词: 一种 中子 探测器 可靠性 验证 方法 装置
【主权项】:
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